Radioelektronikos terminų žodynas. – Vilnius : BĮ UAB „Litimo“. Kazimieras Gaivenis, Gytis Juška, Vidas Kalesinskas. 2000.
Zugtest für Chips — lusto atplėšimo bandymas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. die push test vok. Zugtest für Chips, m rus. испытание кристалла ИС на отрыв, n pranc. essai de détachement de la puce, m … Radioelektronikos terminų žodynas
die push test — lusto atplėšimo bandymas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. die push test vok. Zugtest für Chips, m rus. испытание кристалла ИС на отрыв, n pranc. essai de détachement de la puce, m … Radioelektronikos terminų žodynas
essai de détachement de la puce — lusto atplėšimo bandymas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. die push test vok. Zugtest für Chips, m rus. испытание кристалла ИС на отрыв, n pranc. essai de détachement de la puce, m … Radioelektronikos terminų žodynas
lusto atplėšimo bandymas — statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. die push test vok. Zugtest für Chips, m rus. испытание кристалла ИС на отрыв, n pranc. essai de détachement de la puce, m … Radioelektronikos terminų žodynas
